技術(shù)中心2024-12-23
| 序列 | 產(chǎn)品圖 | 名稱(chēng) | 介紹 | 測(cè)量范圍 | 長(zhǎng)度測(cè)量誤差（18℃~22℃） |
| 1 |  | ZEISS SPECTRUM | SPECTRUM——通過(guò)三種不同的傳感器提高靈活性，ZEISS XDT direct、ZEISS VAST XXT direct和ZEISS RDS-C5 CAA VAST XXT。 | 5/5/6 7/7/6 7/10/6 10/12/6 10/16/6 | 1.9μm + L/250(5/5/6 and 7/7/6 and 7/10/6) 2.1μm + L/250(10/12/6 and 10/16/6) |
| 2 |  | ZEISS CONTURA | CONTURA——來(lái)自蔡司的靈活、可靠和優(yōu)秀的品質(zhì)保證測(cè)量平臺(tái)。最新一代測(cè)量機(jī)精度更高，可兼容多種光學(xué)式探頭，從而實(shí)現(xiàn)更廣的測(cè)量范圍。優(yōu)異的測(cè)量技術(shù)、蔡司CALYPSO測(cè)量軟件以及高度優(yōu)化的通用測(cè)量程序令CONTURA成為同類(lèi)測(cè)量機(jī)中的標(biāo)桿之作。 | 7/7/6 7/10/6 9/12/8 9/18/8 10/12/6 10/16/6 12/18/8 12/24/8 | 1.5μm + L/350(7/7/6 and 7/10/6) 1.6μm + L/350(9/12/8 and 9/18/8) 1.7μm + L/350(10/12/6 and 10/16/6) 2.1μm + L/350(12/18/8 and 12/24/8) |
| 3 |  | ZEISS O-INSPECT | O-INSPECT——集接觸式及光學(xué)測(cè)量于一體。 | 3/2/2 5/4/3 8/6/3 | 1.6μm + L/200(3/2/2) 1.6μm + L/200(5/4/3) 1.9μm + L/200(8/6/3) |
| 4 |  | ZEISS ACCURA | ACCURA——性能和精度是否是您的頭等要?jiǎng)?wù)？憑借豐富的配置，ACCURA可根據(jù)您的需求——以及預(yù)算度身定制。此外，系統(tǒng)采用的模塊式結(jié)構(gòu)確保測(cè)量機(jī)擁有極佳的可擴(kuò)展性。當(dāng)用戶(hù)對(duì)配置、探頭和軟件等需求發(fā)生變化時(shí)，可對(duì)ACCUR進(jìn)行相應(yīng)改造。 | 9/12/8 9/16/8 12/18/8 12/24/8 12/18/10 12/24/10 12/30/10 12/42/10 16/24/10 16/30/10 16/42/10 16/24/15 16/30/15 16/42/15 20/24/10 20/30/10 20/42/10 20/24/15 20/30/15 20/42/15 | 1.2μm + L/350 |
| 5 |  | ZEISS MICURA | MICURA——樹(shù)立了緊湊型測(cè)量機(jī)的標(biāo)桿。盡管尺寸較小，但在測(cè)量精度方面毫不遜色。MICURA配備蔡司VAST XT gold掃描探頭與navigator技術(shù)。 | 5/5/5 | 0.7μm + L/400 |
| 6 |  | ZEISS PRISMO | PRISMO——在全球業(yè)界堪稱(chēng)高速掃描和高精度在線(xiàn)測(cè)量機(jī)的代名詞。PRISMO ultra的長(zhǎng)度測(cè)量誤差僅為0.5+L/500毫米, 是高精度任務(wù)的完美選擇。 | 7/9/5 7/9/7 9/15/7 9/18/7 9/24/7 12/18/10 12/24/10 12/30/10 12/42/10 16/24/10 16/30/10 16/42/10 | 0.5μm + L/500 |
| 7 |  | ZEISS XENOS | XENOS——可在各類(lèi)要求高測(cè)量精度的領(lǐng)域使用——從科研機(jī)構(gòu)的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室、航空和航天工業(yè)直至光學(xué)工業(yè)。這一高端測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度達(dá)到技術(shù)極限，其測(cè)量范圍近1立方米。 | 9/15/7 | 0.3μm + L/1,000 |
| 8 |  | ZEISS DuraMax | ZEISS DuraMax——替代了量具。配備ZEISS VAST XXT掃描測(cè)頭，可輕松獲取輪廓和自由曲面的信息生產(chǎn)環(huán)境條件不佳？ | 5/5/5 | 2.4μm+L/300 |
| 9 |  | ZEISS O-DETECT | ZEISS O-DETECT——光學(xué)影像投影測(cè)量?jī)x | 3/3/2 | 1.6μm+L/300 |
