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實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？

[原創(chuàng)內(nèi)容] 發(fā)布于：2021-06-28 11:00:39 閱讀：1333次 編輯：思誠(chéng)市場(chǎng)部
ZEISS Visioner 1
采用MALS?技術(shù)的數(shù)字顯微鏡，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)全焦光學(xué)檢測(cè)

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？ ></div><div><br/></div><div>傳統(tǒng)檢測(cè)系統(tǒng)采用淺景深，這意味著樣品的某些部分可能無(wú)法聚焦，這可能導(dǎo)致功能缺失、用戶疲勞和檢測(cè)不完整。</div><div><br/></div><div>ZEISS Visioner 1為光學(xué)檢測(cè)與數(shù)據(jù)記錄領(lǐng)域帶來(lái)巨大變革。在獨(dú)特的微鏡陣列透鏡系統(tǒng)(MALSTM)技術(shù)的推動(dòng)下，首次實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)全焦成像功能，同時(shí)保障您今后的每次使用。</div><div><br/></div><div align=

實(shí)時(shí)景深擴(kuò)展（EDoF)

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？ ></div><div><br/></div><div>EDoF是一個(gè)將通過焦平面的多個(gè)圖像合并成為一個(gè)聚焦圖像的過程。<br/><br/>使用傳統(tǒng)的顯微鏡系統(tǒng)可能既耗時(shí)又復(fù)雜。<br/>ZEISS Visioner 1可以讓用戶實(shí)時(shí)完整地查看聚焦的樣品，而無(wú)需對(duì)一系列圖像進(jìn)行Z軸堆疊和后處理。<br/><br/>獨(dú)特的微鏡陣列透鏡系統(tǒng)(MALS?)技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)景深擴(kuò)展(EDoF)。</div><div><br/></div><div align=

重塑光學(xué)規(guī)則
微鏡陣列透鏡系統(tǒng)(MALS?)技術(shù)

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？ ></div><div><br/></div><div>MALS?可以對(duì)不大于69 mm*高度差的樣品進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)， 無(wú)需進(jìn)行Z軸堆疊或重新對(duì)焦。使用微鏡陣列透鏡系統(tǒng)(MALS?)讓我們能夠改變曲率，生成不同的“虛擬”透鏡，從而形成不同的焦平面。以協(xié)調(diào)的方式改變每個(gè)單獨(dú)微鏡片的方向位置即可實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)?？焖僦厮茉摗疤摂M”透鏡的曲率可以實(shí)現(xiàn)超快速聚焦以及實(shí)時(shí)全焦成像和數(shù)據(jù)記錄。</div><div><br/></div><div align=

采用MALS?技術(shù)的ZEISS Visioner 1

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？

? 可用景深擴(kuò)展高達(dá)100倍

? 允許不大于69mm*的高度差

? (可變)曲率排列在一個(gè)平面上的反射微鏡陣列

? 每個(gè)微鏡片尺寸僅為100x100 μm

? 每個(gè)微鏡片都可以旋轉(zhuǎn)和平移，形成曲率可變的光學(xué)表面

? 無(wú)需進(jìn)行Z軸堆疊或重新對(duì)焦

快速3D可視化成像，可輸出數(shù)據(jù)記錄

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？
ZEISS Visioner 1簡(jiǎn)化了成像和數(shù)據(jù)記錄工作，實(shí)時(shí)景深擴(kuò)展成像使您能夠更快地檢測(cè)您的組件，從而提高效率。

感官的延伸
符合人體工程學(xué)的操作

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？

用雙手執(zhí)行檢測(cè)任務(wù)，無(wú)需重復(fù)調(diào)整顯微鏡，不再因使用目鏡而感到疲勞，從而提高工作效率。由于所有內(nèi)容都實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化顯示在單個(gè)屏幕上，因此，檢測(cè)任務(wù)給人的感覺非常自然，如同感官的延伸一樣。

應(yīng)用范圍

實(shí)時(shí)全焦點(diǎn)可視化檢測(cè)技術(shù)，你了解嗎？

對(duì)比針、電路板和電阻在傳統(tǒng)檢測(cè)方法下與蔡司Visioner 1方法下的圖像。由于采用新的MALS?技術(shù)，人們可以在全焦點(diǎn)可視化的情況下檢查零件，日后使用也十分方便。
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