T-SCAN:使用接觸式探針進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量
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發(fā)布于：2022-08-31 10:04:27
閱讀：401次 編輯：思誠(chéng)市場(chǎng)部
想知道如何掃描被光學(xué)跟蹤器隱藏的區(qū)域？在本期視頻中，David將教您借助T-POINT接觸式探針擴(kuò)展測(cè)量范圍。您可以邊旋轉(zhuǎn)零件邊掃描，對(duì)所有位置上的相同特征（例如孔）進(jìn)行探測(cè)，并將其作為參考點(diǎn)。
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