自營蔡司_ZEISS金相顯微鏡Axio Lab.A1

zeiss蔡司金相顯微鏡Axio Lab.A1，舒適的操作，可進行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析，從三種Axio Lab.A1主機架中為您的應(yīng)用選擇合適的配置：反射光照明/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的Axio Lab.A1。在金相學(xué)中，Axio Lab.A1廣泛應(yīng)用于高樣品的檢測。

舒適的操作條件下進行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析
從三種 Axio Lab.A1 主機架中為您的應(yīng)用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的 Axio Lab.A1。

在金相學(xué)中，Axio Lab.A1廣泛應(yīng)用于高樣品的檢測。在結(jié)構(gòu)檢測時，可以分析金屬的微觀結(jié)構(gòu)和晶粒大小或者捕獲導(dǎo)致材料缺陷的相關(guān)機理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應(yīng)力裂紋和裂縫。 使用130至1200萬像素的數(shù)碼相機記錄檢測結(jié)果。
偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測犯罪樣品時用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結(jié)構(gòu)。使用明場、熒光和偏光顯微技術(shù)分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質(zhì)學(xué)家，則可以使用該儀器檢測巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開采。在環(huán)境保護應(yīng)用中，它還能夠用于辨識諸如石棉纖維材料的微觀結(jié)構(gòu)。

蔡司金相顯微鏡Axio Lab.A1結(jié)構(gòu)圖

產(chǎn)品特點 Infocation

技術(shù)特點

4位反射光轉(zhuǎn)盤選擇微觀結(jié)構(gòu)檢測的更佳觀察方式。借助壓按模塊增加其他觀察方式。主機架內(nèi)置有 50W 鹵素?zé)艉碗娫?。另外，LED 光源具有恒定的色溫、低功耗和超長使用壽命特點。

多用途偏光檢測

多用途偏光檢測，Axio Lab.A1是一款多用途偏光顯微鏡，可用于地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、化石燃料資源的勘探等應(yīng)用。它能夠解決折射率、分裂、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關(guān)問題。可以使用測量補償器擴展其應(yīng)用范圍。選擇固定式和旋轉(zhuǎn)式補償器來拍攝大小光程差，以及測定纖維狀物質(zhì)的光學(xué)特性。360°旋轉(zhuǎn)式載物臺則用于測量分裂和消光角。適用于錐光觀察的主機架展現(xiàn)了檢偏器和 Bertrand 透鏡的出色結(jié)合。當(dāng)Bertrand透鏡轉(zhuǎn)入光路時，這種邏輯機械耦合可以保證檢偏器轉(zhuǎn)至操作位置。

人體工學(xué)設(shè)計

Axio Lab.A1便于操作，只需一只手便可操控主要部件。以舒服的坐姿研究非常細微的結(jié)構(gòu)，并記錄每種材料缺陷，即便長時間使用也不會感到疲勞。選擇適合于無畸變或錐光觀察的主機架以偏光觀察方式檢測雙折射材料。用于偏光顯微觀察的Axio Lab.A1配有中心定位式4位物鏡轉(zhuǎn)盤。

技術(shù)參數(shù)：

光學(xué)系統(tǒng)	IC2S色差反差雙重校正光學(xué)系統(tǒng)
照明裝置	Halogen reflector lamp HAL 50/12V 50W, optional LED
物鏡轉(zhuǎn)盤	5 position nosepiece, for brightfield and darkfield, M27
載物臺	Mechanical stage, 75x30 mm, coaxial drive right side,anodized surface hardcoated specimen holder included
觀察筒	2 positions; 25 mm diameter
物鏡	N-ACHROPLAN、EC Plan-NEOFLUAR、Plan-APOCHROMAT、C-APOCHROMAT 和 FLUAR
目鏡	PL 10x/20 Br. foc.PL 10x/22 Br. foc.
選配裝置	暗場、微分干涉、圓偏光微分干涉、簡易偏光和熒光、相差、CCD成像